Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 10580 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN IEC 60749-23:2026
Dokumentumazonosító
187985
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 23. rész: Élettartam magas hőmérsékleten (IEC 60749-23:2025)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2025)
Alkalmazási terület
This part of IEC 60749 specifies the test used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way and is primarily for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as "burn-in", can be used to screen for infant-mortality related failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this document.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2026-06-01
További adatok
Forrás
idt IEC 60749-23:2025; idt EN IEC 60749-23:2026
Előd
MSZ EN 60749-23:2004, MSZ EN 60749-23:2004/A1:2011
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 984751) ,
oldalszáma
14 oldal; G kategória
Felár
IEC: 5%
ára
Nettó: 10580 Ft
Nettó (felárral): 11109.00 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (25% nyomdai költséggel, 5% Áfával): 14581 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén ( 27% Áfával): 14108 Ft
Szabvány életútja
Elődök

MSZ EN 60749-23:2004

MSZ EN 60749-23:2004/A1:2011

Megtekintett szabvány

MSZ EN IEC 60749-23:2026

2026-06-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok