Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-23:2004

Dokumentumazonosító

134280

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 23. rész: Élettartam nagy hőmérsékleten (IEC 60749-23:2004)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)

Alkalmazási terület

This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as “burn-in”, may be used to screen for infant mortality related failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this standard.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2004-07-01

Forrás

idt EN 60749-23:2004; idt IEC 60749-23:2004

Előd

Utód

Módosítás

MSZ EN 60749-23:2004/A1:2011

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 212830) ,

oldalszáma

10 oldal; E kategória

ára

Nettó: 6730 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 8480 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 8547 Ft