Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 6730 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-23:2004
Dokumentumazonosító
134280
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 23. rész: Élettartam nagy hőmérsékleten (IEC 60749-23:2004)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 23: High temperature operating life (IEC 60749-23:2004)
Alkalmazási terület
This test is used to determine the effects of bias conditions and temperature on solid state devices over time. It simulates the device operating condition in an accelerated way, and is primarily used for device qualification and reliability monitoring. A form of high temperature bias life using a short duration, popularly known as “burn-in”, may be used to screen for infant mortality related failures. The detailed use and application of burn-in is outside the scope of this standard.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2004-07-01
További adatok
Forrás
idt EN 60749-23:2004; idt IEC 60749-23:2004
Előd
Utód
Módosítás
MSZ EN 60749-23:2004/A1:2011
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 212830) ,
oldalszáma
10 oldal; E kategória
ára
Nettó: 6730 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 8480 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 8547 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-23:2004

2004-07-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok