Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 7300 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN IEC 60749-17:2019
Dokumentumazonosító
172939
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 17. rész: Neutronbesugárzás (IEC 60749-17:2019)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019)
Alkalmazási terület
The neutron irradiation test is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to non-ionizing energy loss (NIEL) degradation. The test described herein is applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices and is intended for military- and aerospace-related applications. It is a destructive test. The objectives of the test are as follows: a) to detect and measure the degradation of critical semiconductor device parameters as a function of neutron fluence, and b) to determine if specified semiconductor device parameters are within specified limits after exposure to a specified level of neutron fluence (see Clause 6).
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2019-10-01
További adatok
Forrás
idt EN IEC 60749-17:2019; idt IEC 60749-17:2019
Előd
MSZ EN 60749-17:2003
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 550149) ,
oldalszáma
12 oldal; F kategória
ára
Nettó: 7300 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 9198 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 9271 Ft
Szabvány életútja
Elődök

MSZ EN 60749-17:2003

Megtekintett szabvány

MSZ EN IEC 60749-17:2019

2019-10-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok