Hivatkozási szám

MSZ EN IEC 60749-17:2019

Dokumentumazonosító

172939

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 17. rész: Neutronbesugárzás (IEC 60749-17:2019)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2019)

Alkalmazási terület

The neutron irradiation test is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to non-ionizing energy loss (NIEL) degradation. The test described herein is applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices and is intended for military- and aerospace-related applications. It is a destructive test. The objectives of the test are as follows: a) to detect and measure the degradation of critical semiconductor device parameters as a function of neutron fluence, and b) to determine if specified semiconductor device parameters are within specified limits after exposure to a specified level of neutron fluence (see Clause 6).

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2019-10-01

Forrás

idt EN IEC 60749-17:2019; idt IEC 60749-17:2019

Előd

MSZ EN 60749-17:2003

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 550149) ,

oldalszáma

12 oldal; F kategória

ára

Nettó: 7300 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 9198 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 9271 Ft