Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 6200 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-17:2003
Dokumentumazonosító
125466
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 17. rész: Neutronbesugárzás (IEC 60749-17:2003)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003)
Alkalmazási terület
The neutron irradiation test is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. The tests described herein are applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices. This test is intended for militaryand space-related applications. It is a destructive test. The objectives of the test are as follows: a) to detect and measure the degradation of critical semiconductor device parameters as a function of neutron fluence, and b) to determine if specified semiconductor device parameters are within specified limits after exposure to a specified level of neutron fluence (see Clause 4).
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2003-08-01
A visszavonás napja
2022-05-02
További adatok
Forrás
idt EN 60749-17:2003; idt IEC 60749-17:2003
Előd
Utód
MSZ EN IEC 60749-17:2019
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
oldalszáma
8 oldal; D kategória
ára
Nettó: 6200 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 7812 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-17:2003

2003-08-01 - 2022-05-02

Utódok

MSZ EN IEC 60749-17:2019