Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-17:2003

Dokumentumazonosító

125466

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 17. rész: Neutronbesugárzás (IEC 60749-17:2003)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 17: Neutron irradiation (IEC 60749-17:2003)

Alkalmazási terület

The neutron irradiation test is performed to determine the susceptibility of semiconductor devices to degradation in the neutron environment. The tests described herein are applicable to integrated circuits and discrete semiconductor devices. This test is intended for militaryand space-related applications. It is a destructive test. The objectives of the test are as follows: a) to detect and measure the degradation of critical semiconductor device parameters as a function of neutron fluence, and b) to determine if specified semiconductor device parameters are within specified limits after exposure to a specified level of neutron fluence (see Clause 4).

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2003-08-01

A visszavonás napja

2022-05-02

Forrás

idt IEC 60749-17:2003; idt EN 60749-17:2003

Előd

Utód

MSZ EN IEC 60749-17:2019

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,

oldalszáma

8 oldal; D kategória

ára

Nettó: 6200 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 7812 Ft