Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:


ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 7300 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-6:2017
Dokumentumazonosító
166324
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 6. rész: Tárolás magas hőmérsékleten (IEC 60749-6:2017)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017)
Alkalmazási terület
The purpose of this part of IEC 60749 is to test and determine the effect on all solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is typically used to determine the effects of time and temperature, under storage conditions, for thermally activated failure methods and time-to-failure of solid state electronic devices, including non-volatile memory devices (data-retention failure mechanisms). This test is considered non-destructive but should preferably be used for device qualification. If such devices are used for delivery, the effects of this highly accelerated stress test will need to be evaluated. Thermally activated failure mechanisms are modelled using the Arrhenius equation for acceleration, and guidance on the selection of test temperatures and durations can be found in IEC 60749-43.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2017-10-01
További adatok
Forrás
idt EN 60749-6:2017; idt IEC 60749-6:2017
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 394066) ,
oldalszáma
11 oldal; F kategória
ára
Nettó: 7300 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 9198 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 9271 Ft
Szabvány életútja
Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-6:2017

2017-10-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok