Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-6:2017

Dokumentumazonosító

166324

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 6. rész: Tárolás magas hőmérsékleten (IEC 60749-6:2017)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 6: Storage at high temperature (IEC 60749-6:2017)

Alkalmazási terület

The purpose of this part of IEC 60749 is to test and determine the effect on all solid state electronic devices of storage at elevated temperature without electrical stress applied. This test is typically used to determine the effects of time and temperature, under storage conditions, for thermally activated failure methods and time-to-failure of solid state electronic devices, including non-volatile memory devices (data-retention failure mechanisms). This test is considered non-destructive but should preferably be used for device qualification. If such devices are used for delivery, the effects of this highly accelerated stress test will need to be evaluated. Thermally activated failure mechanisms are modelled using the Arrhenius equation for acceleration, and guidance on the selection of test temperatures and durations can be found in IEC 60749-43.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2017-10-01

Forrás

idt EN 60749-6:2017; idt IEC 60749-6:2017

Előd

MSZ EN 60749-6:2002

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 394066) ,

oldalszáma

11 oldal; F kategória

ára

Nettó: 7300 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 9198 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 9271 Ft