Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-42:2015

Dokumentumazonosító

159562

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 42. rész: Tárolási hőmérséklet és páratartalom (IEC 60749-42:2014)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 42: Temperature and humidity storage (IEC 60749-42:2014)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60749 provides a test method to evaluate the endurance of semiconductor devices used in high temperature and high humidity environments. This test method is used to evaluate the endurance against corrosion of the metallic interconnection of chips of semiconductor devices contained in plastic moulded and other types of packages. It is also used as a means of accelerating the leakage phenomena due to the moisture penetration through the passivation film and as a pre-conditioning for various kinds of tests.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2015-03-01

Forrás

idt IEC 60749-42:2014; idt EN 60749-42:2014

Előd

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 540215) ,

oldalszáma

9 oldal; E kategória

ára

Nettó: 6730 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 8480 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 8547 Ft