Hivatkozási szám

MSZ EN 62215-3:2014

Dokumentumazonosító

158247

Cím

Integrált áramkörök. Az impulzusokkal szembeni zavarérzéketlenség mérése. 3. rész: Aszinkron tranziensek betáplálási módszere (IEC 62215-3:2013)

Angol cím

Integrated circuits. Measurement of impulse immunity. Part 3: Non-synchronous transient injection method (IEC 62215-3:2013)

Alkalmazási terület

This part of IEC 62215 specifies a method for measuring the immunity of an integrated circuit (IC) to standardized conducted electrical transient disturbances. The disturbances, not necessarily synchronized to the operation of the device under test (DUT), are applied to the IC pins via coupling networks. This method enables understanding and classification of interaction between conducted transient disturbances and performance degradation induced in ICs regardless of transients within or beyond the specified operating voltage range.

ICS

31.200 Integrált áramkörök. Mikroelektronika

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2014-07-01

Forrás

idt EN 62215-3:2013; idt IEC 62215-3:2013

Előd

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 534977) ,

oldalszáma

33 oldal; Q kategória

ára

Nettó: 13160 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 16582 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 16713 Ft