Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 8000 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 62047-18:2014
Dokumentumazonosító
158246
Cím
Félvezető eszközök. Mikro-elektromechanikus eszközök. 18. rész: Vékonyréteg-áramkör hajlításvizsgálati módszere (IEC 62047-18:2013)
Angol cím
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Part 18: Bend testing methods of thin film materials (IEC 62047-18:2013)
Alkalmazási terület
This part of IEC 62047 specifies the method for bend testing of thin film materials with a length and width under 1 mm and a thickness in the range between 0,1 µm and 10 µm. Thin films are used as main structural materials for Micro-electromechanical Systems (abbreviated as MEMS in this document) and micromachines. The main structural materials for MEMS, micromachines, etc., have special features, such as a few micron meter size, material fabrication by deposition, photolithography, and/ or nonmechanical machining test piece. This International Standard specifies the bend testing and test piece shape for micro-sized smooth cantilever type test pieces, which enables a guarantee of accuracy corresponding to the special features.
ICS
31.080.99 Egyéb félvezető eszközök
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2014-07-01
További adatok
Forrás
idt IEC 62047-18:2013; idt EN 62047-18:2013
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 519728) ,
oldalszáma
14 oldal; G kategória
ára
Nettó: 8000 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 10080 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 10160 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 62047-18:2014

2014-07-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok