Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 10600 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-29:2011
Dokumentumazonosító
152488
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 29. rész: Reteszelésvizsgálat (IEC 60749-29:2011)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011)
Alkalmazási terület
This part of IEC 60749 covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. This test is classified as destructive. The purpose of this test is to establish a method for determining integrated circuit (IC) latchup characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are used in determining product reliability and minimizing "no trouble found" (NTF) and "electrical overstress" (EOS) failures due to latch-up. This test method is primarily applicable to CMOS devices. Applicability to other technologies must be established. The classification of latch-up as a function of temperature is defined in 3.1 and the failure level criteria are defined in 3.2
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2011-11-01
További adatok
Forrás
idt IEC 60749-29:2011; idt EN 60749-29:2011
Előd
MSZ EN 60749-29:2004
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 572173) ,
oldalszáma
23 oldal; L kategória
ára
Nettó: 10600 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 13356 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 13462 Ft
Szabvány életútja
Elődök

MSZ EN 60749-29:2004

Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-29:2011

2011-11-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok