Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-29:2011

Dokumentumazonosító

152488

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 29. rész: Reteszelésvizsgálat (IEC 60749-29:2011)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 29: Latch-up test (IEC 60749-29:2011)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60749 covers the I-test and the overvoltage latch-up testing of integrated circuits. This test is classified as destructive. The purpose of this test is to establish a method for determining integrated circuit (IC) latchup characteristics and to define latch-up failure criteria. Latch-up characteristics are used in determining product reliability and minimizing "no trouble found" (NTF) and "electrical overstress" (EOS) failures due to latch-up. This test method is primarily applicable to CMOS devices. Applicability to other technologies must be established. The classification of latch-up as a function of temperature is defined in 3.1 and the failure level criteria are defined in 3.2

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2011-11-01

Forrás

idt IEC 60749-29:2011; idt EN 60749-29:2011

Előd

MSZ EN 60749-29:2004

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 572173) ,

oldalszáma

23 oldal; L kategória

ára

Nettó: 10600 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 13356 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 13462 Ft