Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-34:2011

Dokumentumazonosító

151684

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 34. rész: Teljesítményváltozásos vizsgálat (IEC 60749-34:2010)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 34: Power cycling (IEC 60749-34:2010)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60749 describes a test method used to determine the resistance of a semiconductor device to thermal and mechanical stresses due to cycling the power dissipation of the internal semiconductor die and internal connectors. This happens when lowvoltage operating biases for forward conduction (load currents) are periodically applied and removed, causing rapid changes of temperature. The power cycling test is intended to simulate typical applications in power electronics and is complementary to high temperature operating life (see IEC 60749-23). Exposure to this test may not induce the same failure mechanisms as exposure to air-to-air temperature cycling, or to rapid change of temperature using the two-fluid-baths method. This test causes wear-out and is considered destructive. NOTE It is not the intention of this specification to provide prediction models for lifetime evaluation.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2011-06-01

Forrás

idt IEC 60749-34:2010; idt EN 60749-34:2010

Előd

MSZ EN 60749-34:2004

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 349408) ,

oldalszáma

11 oldal; F kategória

ára

Nettó: 7300 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 9198 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 9271 Ft