Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 8640 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 62374-1:2011
Dokumentumazonosító
151400
Cím
Félvezető eszközök. 1. rész: Időfüggő dielektromos átütési (TDDB-) vizsgálat fémek közötti szigetelőrétegeken (IEC 62374-1:2010)
Angol cím
Semiconductor devices. Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers (IEC 62374-1:2010)
Alkalmazási terület
This part of IEC 62374 describes a test method, test structure and lifetime estimation method of the time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers applied in semiconductor devices.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2011-04-01
További adatok
Forrás
idt EN 62374-1:2010; idt IEC 62374-1:2010
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 454886) ,
oldalszáma
16 oldal; H kategória
ára
Nettó: 8640 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 10886 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 10973 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 62374-1:2011

2011-04-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok