Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:


ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 9170 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 62418:2011
Dokumentumazonosító
150879
Cím
Félvezető eszközök. A fémezési igénybevétel okozta üregképződés vizsgálata (IEC 62418:2010)
Angol cím
Semiconductor devices. Metallization stress void test (IEC 62418:2010)
Alkalmazási terület
This International Standard describes a method of metallization stress void test and associated criteria. It is applicable to aluminium (Al) or copper (Cu) metallization. This standard is applicable for reliability investigation and qualification of semiconductor process.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2011-01-01
További adatok
Forrás
idt EN 62418:2010; idt IEC 62418:2010
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 449949) ,
oldalszáma
17 oldal; J kategória
ára
Nettó: 9170 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 11554 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 11646 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 62418:2011

2011-01-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok