Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:


ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 8000 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-38:2008
Dokumentumazonosító
146460
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 38. rész: Memóriás félvezető eszközök logikaihiba (soft-error)-vizsgálati módszere (IEC 60749-38:2008)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008)
Alkalmazási terület
This part of IEC 60749 establishes a procedure for measuring the soft error susceptibility of semiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpha radiation. Two tests are described; an accelerated test using an alpha radiation source and an (unaccelerated) real-time system test where any errors are generated under conditions of naturally occurring radiation which can be alpha or other radiation such as neutron. To completely characterize the soft error capability of an integrated circuit with memory, the device must be tested for broad high energy spectrum and thermal neutrons using additional test methods. This test method may be applied to any type of integrated circuit with memory device.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2008-11-01
További adatok
Forrás
idt IEC 60749-38:2008; idt EN 60749-38:2008
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 402655) ,
oldalszáma
13 oldal; G kategória
ára
Nettó: 8000 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 10080 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 10160 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-38:2008

2008-11-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok