Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-38:2008

Dokumentumazonosító

146460

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 38. rész: Memóriás félvezető eszközök logikaihiba (soft-error)-vizsgálati módszere (IEC 60749-38:2008)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 38: Soft error test method for semiconductor devices with memory (IEC 60749-38:2008)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60749 establishes a procedure for measuring the soft error susceptibility of semiconductor devices with memory when subjected to energetic particles such as alpha radiation. Two tests are described; an accelerated test using an alpha radiation source and an (unaccelerated) real-time system test where any errors are generated under conditions of naturally occurring radiation which can be alpha or other radiation such as neutron. To completely characterize the soft error capability of an integrated circuit with memory, the device must be tested for broad high energy spectrum and thermal neutrons using additional test methods. This test method may be applied to any type of integrated circuit with memory device.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2008-11-01

Forrás

idt EN 60749-38:2008; idt IEC 60749-38:2008

Előd

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 402655) ,

oldalszáma

13 oldal; G kategória

ára

Nettó: 8000 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 10080 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 10160 Ft