Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:


ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 10600 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 62374:2008
Dokumentumazonosító
145232
Cím
Félvezető eszközök. A dielektromos rácsrétegek villamos szilárdságának időfüggő letörési vizsgálata (TDDB) (IEC 62374:2007)
Angol cím
Semiconductor devices. Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films (IEC 62374:2007)
Alkalmazási terület
This International Standard provides a test method of Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) for gate dielectric films on semiconductor devices and a product lifetime estimation method of TDDB failure.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2008-05-01
További adatok
Forrás
idt IEC 62374:2007; idt EN 62374:2007
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 541954) ,
oldalszáma
22 oldal; L kategória
ára
Nettó: 10600 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 13356 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 13462 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 62374:2008

2008-05-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok