Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:


ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 8000 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 62373:2006
Dokumentumazonosító
141563
Cím
Fém-oxid félvezető, térvezérlésű tranzisztorok (MOSFET-ek) hőmérsékleti és villamos igénybevétel melletti stabilitásvizsgálata (IEC 62373:2006)
Angol cím
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET) (IEC 62373:2006)
Alkalmazási terület
This International Standard provides a test procedure for a bias-temperature (BT) stability test of metal-oxide semiconductor, field-effect transistors (MOSFET).
ICS
31.080.30 Tranzisztorok
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2006-11-01
További adatok
Forrás
idt IEC 62373:2006; idt EN 62373:2006
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 408062) ,
oldalszáma
14 oldal; G kategória
ára
Nettó: 8000 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 10080 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 10160 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 62373:2006

2006-11-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok