Hivatkozási szám

MSZ EN 60444-8:2004

Dokumentumazonosító

133409

Cím

Kvarckristályegységek jellemzőinek mérése. 8. rész: Tartozékok felületre szerelt kvarckristályegységek vizsgálatához (IEC 60444-8:2003)

Angol cím

Measurement of quartz crystal unit parameters. Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units (IEC 60444-8:2003)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60444 explains the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, and equivalent electrical circuit parameters of a leadless surface mounted quartz crystal units using zero phase technique as specified in IEC 60444-4 and IEC 60444-5. An equivalent circuit constant and the application frequency range obtained by using the test fixture are then shown. In addition, this is applied to the enclosure shown in IEC 61240 as a crystal unit without lead wires. An equivalent circuit of the test fixture and an electric values are based on IEC 60444-1 and IEC 60444-4. The range of load capacitance is 10 pF or more. Calibration of the measurement system and CˇL^ adapter board is explained hereafter. This document applies to the test fixture that allows the accurate measurement of resonance frequency, resonance resistance, parallel capacitance Cˇ0^, motional capacitance Cˇ1^, and motional inductance Lˇ1^ of the crystal unit over the frequency range from 1 MHz to 150 MHz using an automatic network analyzer, based on IEC 60444-5.

ICS

31.140 Piezoelektromos eszközök

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2004-03-01

A visszavonás napja

2020-01-19

Forrás

idt EN 60444-8:2003; idt IEC 60444-8:2003

Előd

Utód

MSZ EN 60444-8:2017

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 297600) ,

oldalszáma

12 oldal; F kategória

ára

Nettó: 7300 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 9198 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 9271 Ft