Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:

ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 9880 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-8:2003
Dokumentumazonosító
125788
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 8. rész: Tömítettség (IEC 60749-8:2002 + 2003. évi helyesbítés)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 8: Sealing (IEC 60749-8:2002 + corrigendum 2003)
Alkalmazási terület
This part of IEC 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) The object of this test method is to determine the leak rate of semiconductor devices. NOTE This test is identical to the test method contained in clause 5 of chapter 3 of IEC 60749 (1996), amendment 2, apart from the addition of this clause and clause 2 and the subsequent renumbering.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
Műszaki Bizottság
MSZT/MCS 820 - Elektronikai alkatrészek
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2003-09-01
További adatok
Forrás
idt IEC 60749-8:2003; idt IEC 60749-8:2003/C:2003; idt EN 60749-8:2003
Előd
Utód
Módosítás
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
PDF (letöltés) (a fájl mérete: 391574) ,
oldalszáma
20 oldal; K kategória
ára
Nettó: 9880 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 12449 Ft
PDF (letöltés) formátum esetén (27% Áfával): 12548 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-8:2003

2003-09-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok