Szabványkereső

Hivatkozási szám, azonosító jelzet, vagy a szabványcímben előforduló kulcsszó szerinti keresés:


ICS (a szabványok nemzetközi osztályozási rendszere) szerinti keresés

Nettó ár: 6200 Ft
Kosárba tesz
Alapadatok
Hivatkozási szám
MSZ EN 60749-36:2003
Dokumentumazonosító
125469
Cím
Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 36. rész: Állandó gyorsulás (IEC 60749-36:2003)
Angol cím
Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003)
Alkalmazási terület
This part of IEC 60749 provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test. It may be used as a high stress (destructive) test to determine the mechanical limits of the package, internal metallisation and lead system, die or substrate attachment, and other elements of the microelectronic device. When proper stress levels have been established this test method may also be employed as a non-destructive in-line 100 % screen to detect and eliminate devices with lower than normal mechanical strengths in any of the structural elements. In general, this acceleration steady-state test method is in conformity with IEC 60068-2-7 but, due to specific requirements of semiconductors, the clauses of this standard apply.
ICS
31.080.01 Félvezető eszközök általában
A szabvány nyelve
angol
Az érvényesség kezdete
2003-08-01
További adatok
Forrás
idt EN 60749-36:2003; idt IEC 60749-36:2003
Előd
Utód
Módosítás
Kiegészítő információk
SZK-közlemények
Kapcsolódó európai jogszabály
Kereskedelmi adatok
A szabvány
kapható formátuma
Papír ,
oldalszáma
7 oldal; D kategória
ára
Nettó: 6200 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 7812 Ft
Szabvány életútja
Elődök

Jelenleg nincsenek előzmények

Megtekintett szabvány

MSZ EN 60749-36:2003

2003-08-01

Utódok

Jelenleg nincsenek utódok