Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-36:2003

Dokumentumazonosító

125469

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 36. rész: Állandó gyorsulás (IEC 60749-36:2003)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 36: Acceleration, steady state (IEC 60749-36:2003)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60749 provides a test for determining the effects of constant acceleration on cavity-type semiconductor devices. It is an accelerated test designed to indicate types of structural and mechanical weaknesses not necessarily detected in shock and vibration test. It may be used as a high stress (destructive) test to determine the mechanical limits of the package, internal metallisation and lead system, die or substrate attachment, and other elements of the microelectronic device. When proper stress levels have been established this test method may also be employed as a non-destructive in-line 100 % screen to detect and eliminate devices with lower than normal mechanical strengths in any of the structural elements. In general, this acceleration steady-state test method is in conformity with IEC 60068-2-7 but, due to specific requirements of semiconductors, the clauses of this standard apply.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2003-08-01

Forrás

idt EN 60749-36:2003; idt IEC 60749-36:2003

Előd

Utód

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,

oldalszáma

7 oldal; D kategória

ára

Nettó: 6200 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 7812 Ft