Hivatkozási szám

MSZ EN 60749-18:2003

Dokumentumazonosító

125467

Cím

Félvezető eszközök. Mechanikai és klimatikus vizsgálati módszerek. 18. rész: Ionizáló sugárzás (teljes dózis) (IEC 60749-18:2002)

Angol cím

Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 18: Ionizing radiation (total dose) (IEC 60749-18:2002)

Alkalmazási terület

This part of IEC 60749 provides a test procedure for defining requirements for testing packaged semiconductor integrated circuits and discrete semiconductor devices for ionizing radiation (total dose) effects from a cobalt-60 (60Co) gamma ray source. This standard provides an accelerated annealing test for estimating low dose rate ionizing radiation effects on devices. This annealing test is important for low dose rate or certain other applications in which devices may exhibit significant time-dependent effects. This standard addresses only steady-state irradiations, and is not applicable to pulse type irradiations. It is intended for military- and space-related applications. This standard may produce severe degradation of the electrical properties of irradiated devices and thus should be considered a destructive test.

ICS

31.080.01 Félvezető eszközök általában

Műszaki Bizottság

A szabvány nyelve

angol

Az érvényesség kezdete

2003-08-01

A visszavonás napja

2022-05-15

Forrás

idt IEC 60749-18:2002; idt EN 60749-18:2003

Előd

Utód

MSZ EN IEC 60749-18:2019

Módosítás

SZK-közlemények

Kapcsolódó európai jogszabály

A szabvány

kapható formátuma

Papír ,

oldalszáma

16 oldal; H kategória

ára

Nettó: 8640 Ft
Bruttó:
Papír formátum esetén (5% Áfával): 10886 Ft